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Dettagli:
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| Luogo di origine: | zhuzhou, Cina |
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| Marca: | Sanxin |
| Certificazione: | ISO9001 |
| Numero di modello: | SX1407 |
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Termini di pagamento e spedizione:
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| Quantità di ordine minimo: | 2 |
| Tempi di consegna: | 5-25 giorni |
| Termini di pagamento: | L/C, T/T, Western Union |
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Informazioni dettagliate |
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| Nome dell'articolo: | ago del tungsteno | Caratteri: | resistenza all'usura, anticorrosione |
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| Durezza: | HRA 90-92 | Vantaggio: | Alta resistenza all'usura, lunga durata |
| Forma: | Spillo | Grado del carburo: | Yg6, Yg8, Yg10, ecc. |
| Trattamento superficiale: | Ben macinato e lucidato | servizio: | ODM,OEM,OEM e ODM |
| Grado di qualità: | K30, YG10X, K40, P10... | Caratteristica principale: | Resistente all'usura |
| Tolleranza: | H6 | ||
| Evidenziare: | ago di tungsteno carburo nichelato,pin di tungsteno per test di semiconduttori,ago di tungsteno carburo con garanzia |
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Descrizione di prodotto
Ago in carburo di tungsteno personalizzato nichelato Pioneer conduttivo di grado micron
La sonda di precisione con strato di nichel elettrolitico, con resistenza di contatto ultrabassa di 0,02 Ω e rivestimento con durezza HV500, supera i punti dolenti di usura e ossidazione dei normali aghi placcati in oro e raggiunge la trasmissione ad attenuazione zero di segnali a livello di microampere nei campi dei test sui semiconduttori e degli elettrodi medici.
Matrice delle specifiche:
| Parametro | Valore standard | Massima precisione | Norma di prova |
| Gamma di diametri | Φ0,1-2,0 mm | Φ0,05 mm (microago | Misuratore di diametro laser |
| Spessore del rivestimento | 5±0,5μm | ±0,2μm | Spettrometro XRF |
| Rettilineità | ≤0,003 mm/30 mm | 0,001 mm/30 mm | VDI2617 |
| Durezza del rivestimento | HV500±50 | Nanoindentatore completamente testato | ISO 14577 |
| Resistenza di contatto | 0,02Ω±0,005Ω | Misurazione a quattro fili | CEI 60512 |
Nota: i dati sopra indicati sono solo di riferimento, contattaci per la personalizzazione.
Vantaggi prestazionali:
- Resistenza di contatto: 0,02-0,05Ω (90% inferiore rispetto ai pin in acciaio inossidabile)
- Durata di usura: >1.000.000 di cicli di collegamento/collegamento
- Resistenza alla corrosione: test in nebbia salina superato di 96 ore
Applicazione:
Test sui semiconduttori
- Scheda sonda a livello wafer (array di microaghi da 0,1 mm Φ)
- Test del pacchetto BGA (continuità del passo di 50μm)
- Test di dispositivi semiconduttori GaN di terza generazione (resistenza alle alte temperature fino a 400°C)
Elettronica medica
- Elettrodi Neurali Impiantabili (Certificati in Biocompatibilità)
- Sonde per il monitoraggio della glicemia (resistenti alla corrosione degli anticorpi)
- Contatti endoscopio (>500 cicli di sterilizzazione)
Industria di precisione
- Test con sonda volante PCB (continuità 0,3 mm)
- Sonde per batterie New Energy (resistenti alla corrosione degli elettroliti)
- Micro connettori (forza di inserimento e rimozione ≤0,5 N)
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